시험분석기술
| 기술명 | 음극선발광 (Cathodoluminescense) 측정 기술 | ||
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| 요약 | ㆍ 200 ~ 1,800nm 영역에서 CL spectrum 측정 ㆍ 200 ~ 1,800nm 영역에서 CL image 측정 (Monochromatic & Panchromatic) ㆍ 80 ~ 300K 범위에서 온도변화에 따른 CL spectrum image 측정 |
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| 결과 | ㆍ 밴드갭(direct band gap) 물질로 이루어진 전체파장의 Panchromatic mapping 가능 ㆍ 밴드갭(direct band gap) 물질로 이루어진 단파장의 Monochromatic mapping 가능 |
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| 사진 |
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| 기술적가치 | |||
| 활동분야 | ㆍ 밴드갭(direct band gap) 물질 분석 ㆍ 전위밀도 분석 |
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| 기술관련문의 | ㆍ 시험분석실 허은진 주임 (031-546-6051, eunjin.her@kanc.re.kr) | ||
