시험분석기술
| 기술명 | AFM(Atomic Force Microscope)을 이용한 표면 특성 분석 | ||
|---|---|---|---|
| 요약 | ㆍ 분해능: <0.15 nm (<0.02 nm in low voltage Topography mode) ㆍ 100 μm × 100 μm 범위 이내의 AFM 분석 ㆍ Topograpy 외 특수모드를 이용한 분석 ( I-AFM, MFM, EFM, LFM, FMM 등) |
||
| 결과 | ㆍ Tophography Image 측정 (Non-contact, Contact, Tapping Mode) ㆍ Phase Image 측정 ㆍ Conductive-AFM 측정 |
||
| 사진 |
|
||
| 기술적가치 | |||
| 활동분야 | ㆍ 샘플 표면 조도 측정 ㆍ 샘플 단차 측정 ㆍ 그 외 특수모드 측정 |
||
| 기술관련문의 | ㆍ 시험분석실 강성민 선임 (031-546-6051, seongmin.kang@kanc.re.kr) | ||
